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埃鼎智能科技超聲掃描顯微鏡助力微電子研究中心

來源：紹興埃鼎智能科技有限公司 2024年05月29日 16:00

新年伊始，由埃鼎智能科技有限公司合作開發(fā)的YTS 100超聲掃描顯微鏡成功入駐浙江大學紹興微電子研究中心實驗室，雙方將在功率器件的功能性能測試、可靠性分析等方面加強合作，共同探討功率器件及模組的自動化方法和標準化流程。

埃鼎智能科技專注于半導體行業(yè)聲、光、電等無損檢測設備開發(fā)和技術(shù)服務，公司秉承誠信務實，合作共贏的理念，致力于為半導體行業(yè)提供優(yōu)異的檢測設備和服務。公司目前已有紅外顯微鏡、超景深顯微鏡、超聲掃描顯微鏡、晶圓&掩模缺陷自動檢測等多款設備進入客戶產(chǎn)線和實驗室。

YTS 100超聲掃描顯微鏡是一款超聲無損檢測利器，超聲波在被測樣品中傳播，遇到不同的物質(zhì)發(fā)生反射，探頭接收回波信號，計算機將超聲波信號生成圖像。超聲掃描檢測在功率器件缺陷檢測，IC芯片失效分析、高低壓電器焊接質(zhì)量檢查等行業(yè)有廣泛應用。

應用案例

環(huán)氧樹脂封裝分層缺陷檢測:

缺陷信號與結(jié)合良好信號的波形相位不同，通過波形進行著色處理，將缺陷區(qū)域標紅。

IGBT模組檢測：

不破壞產(chǎn)品的前提下，掃描不同深度的結(jié)構(gòu)，進行內(nèi)部缺陷檢測。

芯片缺陷檢測：

芯片塑封后內(nèi)部的空洞、裂紋、分層等異常在超聲顯微鏡下一覽無余。

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