X射線光電子能譜儀AXIS ULTRA DLD廠家用X射線激發(fā)試樣光電子的能譜儀。適用于元素分析，價態(tài)和化學結構分析，也可測量電子結合能。

X射線光電子能譜儀AXIS ULTRA DLD廠家特點

• 空間分辨率小于3μ_m
• 可集成多種分析技術
• 延遲線探測器（DLD）系統(tǒng)
• 平行成像和微區(qū)譜圖

的同軸超低能無陰影單電子源荷電中和器，*解決絕緣體XPS分析
  全自動5軸常中心樣品臺，實現(xiàn)全自動角分辨XPS分析
*能量分辨率優(yōu)于 0.45eV（Ag 3d_5/2）
常規(guī)分析能量分辨和靈敏度高達0.55eV@1.1Mcps（Ag 3d_5/2）
絕緣體分析的分析能量分辨和靈敏度高達0.68eV@16kcps（PET的C 1s）
 選配單色化Al/Ag雙陽極X射線源，實現(xiàn)高能XPS分析
 結合了數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理的Vision軟件，可運行于Windows XP/Vista/7等多種平臺下，實現(xiàn)各真空室真空度實時顯示，操控真空閥門開關，實驗條件設定和全自動無人值守分析等強大功能