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磁光克爾效應(yīng)系統(tǒng)-NanoMOKE3

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公司名稱 Quantum量子科學(xué)儀器貿(mào)易（北京）有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2020/10/16 10:31:47
訪問次數(shù) 65

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

英國Durham公司是依托于英國Durham大學(xué)的高科技企業(yè)。與Durham大的磁光學(xué)研究相對應(yīng)，Durham公司的Russell Cowburn教授（英國劍橋大學(xué)卡文迪許實驗室主任，英國*院士）設(shè)計并制造了當(dāng)前世界上性能，功能大的磁光克爾效應(yīng)系統(tǒng)——NanoMOKE3。NanoMOKE3是新一代超高靈敏度磁強計和克爾顯微鏡。在NanoMOKE2巨大成功的基礎(chǔ)上，Nano-MOKE3在一套系統(tǒng)中集成了高品質(zhì)激光磁強計和動態(tài)克爾顯微鏡。對于縱向、橫向以及極向磁光克爾效應(yīng)都非常靈敏，使得NanoMOKE3成為研究磁性薄膜以及磁性微結(jié)構(gòu)的測量工具。廣泛應(yīng)用于諸如磁性納米技術(shù)、自旋電子學(xué)和磁性薄膜等磁學(xué)領(lǐng)域。NanoMOKE3具有*的靈敏度和強大的測量功能，同時系統(tǒng)靈巧的設(shè)計以及的操作軟件讓復(fù)雜的實驗過程變得簡單，使您能夠快速的實現(xiàn)自己珍貴的研究思路、獲得可靠實驗數(shù)據(jù)。的NanoMOKE3進行了全新的升級，增加了超快速的CCD，更加方便您的測試。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛應(yīng)用于諸如磁性納米技術(shù)、自旋電子學(xué)和磁性薄膜等磁學(xué)領(lǐng)域。

詳細信息在線詢價

NanoMOKE3系統(tǒng)特點：

1、非常高的靈敏度和穩(wěn)定性，非常低的噪音，可以探測到低至 10^-12emu 的磁矩。

2、高度聚焦的激光，激光束斑達到2 μm，可以輕松進行樣品的局部或單個結(jié)構(gòu)的性能檢測。

3、*的樣品定位技術(shù)。光路中集成光學(xué)顯微鏡以觀測激光束斑的聚焦點和大小；掃描克爾顯微鏡可以探測樣品的交流磁化率圖像以及反射率圖像，幫助用戶選擇樣品的精細測量區(qū)域。

4、靈活開放的系統(tǒng)設(shè)計。所有的光學(xué)器件都安裝在一個標準光學(xué)平臺上，允許用戶對光學(xué)器件進行調(diào)整，滿足自己的科研需要。

5、任意的磁場波形控制。可以選配多種電磁體：四極磁體、偶極磁體以及螺線管磁體，能夠輕松地在樣品表面產(chǎn)生各種復(fù)雜的磁場。

6、簡單易用的操作控制軟件 LX Pro。該軟件基于微軟的 Windows 系統(tǒng)，能夠自動完成所有實驗以及實驗數(shù)據(jù)的處理。

幾種不同測試手段對比：

測試手段	SQUID	VSM	MFM	MOKE
樣品要求	液體,粉末,塊材,薄膜	液體,粉末,塊材,薄膜	薄膜，表面拋光的塊材	薄膜，表面拋光的塊體
測量內(nèi)容	MT，MH	MT，MH	磁疇圖像	磁滯回線，磁疇圖像，材質(zhì)分布
測試精度	非常高	較高	較高	M不可定量，靈敏度高，磁疇形貌不及MFM
宏觀/微觀	宏觀磁性	宏觀磁性	微觀	微觀
磁疇	不能	不能	靜態(tài)	靜態(tài)/動態(tài)磁疇
各向異性	可以轉(zhuǎn)角測試	不能精確測試	不可以	可以

NanoMOKE3系統(tǒng)基本參數(shù)：

? 溫度范圍：4K~500 K（拓展選件）

? 大磁場：四極磁體：2.5kOe

? 雙極磁體：5kOe

? 單次測量磁場噪聲：<0.1Oe

? 測試靈敏度：優(yōu)于10^-12emu

? 小克爾轉(zhuǎn)角檢出量：0.5mdeg.

? 小反射率變化率檢出量：0.02%

NanoMOKE3豐富的測試功能：

	單點loop功能	區(qū)域mapping功能	Rastering磁疇成像功能	高速CCD磁疇成像功能	反射率成像功能
原理	變化磁場下對單點快速進行極向或縱向克爾信號掃描測量	在變化磁場下，對待測區(qū)域內(nèi)各點進行l(wèi)oop測量，然后對loop面積積分進而得出區(qū)域各點磁性性質(zhì)，進而獲得磁性分布圖	在固定磁場下以矩陣掃描的方式對區(qū)域內(nèi)各點進行克爾信號測量	在固定磁場下，用快速掃描的激光照在待測區(qū)域，通過光學(xué)CCD對整個待測區(qū)域的所有點的克爾信號測量	在進行其他測的同時，獲得樣品表面的反射光強信號。獲得同磁疇形貌同一區(qū)域的外觀形貌
特點	不同溫度下，直接獲得克爾信號隨磁場變化的Loop	不同溫度下，獲得區(qū)域磁性分布信息，可以進行極向或縱向克爾效應(yīng)的測量	不同溫度下，獲得區(qū)域磁疇分布信息，可以進行極向或縱向克爾效應(yīng)的測量	不同溫度下，快速獲取磁疇分布信息，可以進行極向或縱向克爾效應(yīng)的測量	無需時間專門測量，跟其他形貌圖形同時獲得
應(yīng)用	可判斷易/難磁化軸，矯頑力，磁學(xué)性質(zhì)	獲得區(qū)域各點的磁性信息、可用于研究各向異性。變溫測量	區(qū)域靜態(tài)磁疇、動態(tài)磁疇的精確測量。變溫變場測量	快速觀測靜態(tài)磁疇和動態(tài)磁疇	與磁疇形貌做對比分析，進行光功率擾動磁疇圖像修正，判斷克爾信號的噪聲等
精度	利用光電轉(zhuǎn)換器測量，精度非常高	利用光電轉(zhuǎn)換器測量，精度非常高	利用光電轉(zhuǎn)換器測量，精度非常高	利用CCD轉(zhuǎn)換器	利用光電轉(zhuǎn)換器測量，精度非常高