上照射式 X射線熒光光譜儀PrimusII是理學(xué)公司奉獻(xiàn)的上照射式X射線熒光光譜儀,因采用了新型分光晶體,使輕元素分析（如C,B）靈敏度大幅度提高.超輕元素對應(yīng)X射線光管,大功率4千瓦,薄窗,適合輕元素分析 48樣品臺,節(jié)省空間.1次濾波片,可去掉來自光管的特征譜線,減低背景.雙真空,雙泵設(shè)計,節(jié)省抽真空時間.
上照射式 X射線熒光光譜儀PrimusII是理學(xué)公司奉獻(xiàn)的上照射式X射線熒光光譜儀，因采用了新型分光晶體，使輕元素分析(如C,B)靈敏度大幅度提高，超輕元素對應(yīng)X射線光管,大功率4千瓦，薄窗,，適合輕元素分析 48樣品臺,節(jié)省空間，1次濾波片，可去掉來自光管的特征譜線,減低背景，雙真空，雙泵設(shè)計，節(jié)省抽真空時間.防粉塵附件，可防止粉末掉入真空泵，微區(qū)分析可達(dá)500，適合少量樣品分析，軟件在原有的SQX軟件基礎(chǔ)上進(jìn)一步完善,采用對話方式，進(jìn)行EZ掃描，應(yīng)用模板可將各種測試條件,以及前處理順序設(shè)置其中，F(xiàn)P無標(biāo)樣分析，是理學(xué)公司多年來總結(jié)出的一套很好的分析方法,不設(shè)定測試成分也能準(zhǔn)確分析，流程條，按順序顯示測試處理內(nèi)容，標(biāo)準(zhǔn)樣品,操作手冊全中文提供,方便用戶PAS自動調(diào)整，芯線自動清洗，給用戶帶來方便。
主要特點(diǎn)：
1、輕元素（B,C）靈敏度大幅度提高；
2、高強(qiáng)度的分光晶體RX-25,RX-61,RX-75；
3、重金屬的高靈敏度分析-采用型光學(xué)系統(tǒng)；
4、高靈敏度微區(qū)分析-Mapping位置分辨率100µm；
5、優(yōu)良的無標(biāo)樣分析的SQX軟件；
6、儀器設(shè)計充分考慮周邊環(huán)境-節(jié)能、省空間。
應(yīng)用軟件包：
1、設(shè)定樣品（標(biāo)準(zhǔn)樣品、漂移校正樣品）。
2、CD-ROM（測試條件、校正常數(shù)等）、操作手冊全盤提供。
其它特點(diǎn)的軟件功能：
1、SQX分析功能；
2、Mapping數(shù)據(jù)庫；
3、材質(zhì)辨別；
4、理論重疊校正；
5、自動程序運(yùn)轉(zhuǎn)；
6、校正投入量計算。
流程條：
測試、處理流程顯示。根據(jù)流程條內(nèi)容，擊鼠標(biāo)鍵，便可按順序進(jìn)行所需的測試、處理。
散射線FP法：
不需設(shè)定非測試成分，也可以準(zhǔn)確分析。散射線強(qiáng)度計算，可以考慮幾何學(xué)效果，沒有樣品量信息也可準(zhǔn)確分析。不易加壓成形的樣品以及油狀樣品，使用SQX軟件，可以簡單、準(zhǔn)確地進(jìn)行分析。
應(yīng)用模板：
各種測試條件以及樣品前處理順序均設(shè)置其中。
定點(diǎn)分析
100µm的Mapping分辨率?？稍贑CD圖像
上點(diǎn)、區(qū)域、線。定點(diǎn)小直徑500µm。
采用r-θ樣品臺，避免1次X射線的照射面、以及分光晶體的反射強(qiáng)度的干擾，可得到靈敏度分析結(jié)果。 (無 r-θ 樣品臺)
節(jié)能、節(jié)省空間
節(jié)能功能（自動減少X射線光管輸出） 減少冷卻水量 5L/min（水溫30?以下）
PR氣體流量減少（5mL/min）
省空間
采用聯(lián)體設(shè)計，設(shè)置面積只占傳統(tǒng)儀器70%的空間。
便于維護(hù)
PAS脈沖高度自動調(diào)整 F-PC芯線自動清洗
技術(shù)參數(shù)：
硬件：
對應(yīng)超輕元素的X射線光管
采用4kW、30µm薄窗X射線光管，可高靈敏度測試超輕元素。
采用新型光學(xué)系統(tǒng)
采用新型分光晶體，與第二代儀器分光晶體相比，大幅度提高了靈敏度。
48樣品交換器
實(shí)現(xiàn)平臺式共享化，多可放置48個樣品。
多樣品交換器實(shí)現(xiàn)了省空間。
1次X射線濾光片
除去X射線光管的特征X射線光譜，
在減低背景干擾方面發(fā)揮威力。
雙泵、雙真空系統(tǒng)
采用雙真空系統(tǒng)（樣品室/預(yù)抽真空室）。
防止粉末樣品的細(xì)微粉塵混入光學(xué)系統(tǒng)
的結(jié)構(gòu)設(shè)計，樣品交換實(shí)現(xiàn)更高效率。
粉末附件
電磁閥真空密封、防止細(xì)微粉塵進(jìn)入
真空泵內(nèi)。
上照射式 X射線熒光光譜儀PrimusII
