SRG-4000易拉蓋刻線殘余量測(cè)定儀刻痕是易拉蓋的重要部份， 刻線殘留量太厚， 開罐時(shí)拉環(huán)容易斷，殘留量太小， 密封不安全， 出現(xiàn)意外被裂甚至泄漏。至今為止，采用景深顯微鏡的系統(tǒng)取決于操作人員的技術(shù)程度， 它們用一個(gè)外加的顯示屏和測(cè)微計(jì)對(duì)刻線槽進(jìn)行聚焦。SRG-4000易拉蓋刻線殘余量測(cè)定儀由于不同的操作人員會(huì)對(duì)刻線不同地方聚焦，從而使得測(cè)量結(jié)果可重復(fù)性差， 通常會(huì)有明顯的誤差。

SRG-4000易拉蓋刻線殘余量測(cè)定儀CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

刻痕是易拉蓋的重要部份， 刻線殘留量太厚， 開罐時(shí)拉環(huán)容易斷，殘留量太小， 密封不安全， 出現(xiàn)意外被裂甚至泄漏。至今為止，采用景深顯微鏡的系統(tǒng)取決于操作人員的技術(shù)程度， 它們用一個(gè)外加的顯示屏和測(cè)微計(jì)對(duì)刻線槽進(jìn)行聚焦。由于不同的操作人員會(huì)對(duì)刻線不同地方聚焦，從而使得測(cè)量結(jié)果可重復(fù)性差， 通常會(huì)有明顯的誤差。主要產(chǎn)品：SADP露點(diǎn)儀|在線露點(diǎn)儀| 肖氏露點(diǎn)傳感器|肖氏露點(diǎn)儀|頂空分析儀|藥品殘氧儀|壓縮空氣露點(diǎn)儀|Mocon透氧儀|膜康透濕儀|PBI頂空分析儀|露點(diǎn)儀品牌|露點(diǎn)儀價(jià)格|露點(diǎn)儀批發(fā)|Hitech氧氣分析儀|Hitech熱導(dǎo)氣體分析儀|Hitech氫氣分析儀|哈奇便攜式氧分析儀|Hitech微量氧分析儀|恩特龍氧分析儀|Neutronics氧分析儀|露點(diǎn)儀廠家|代表處|分公司|子公司|辦事處|總代理CMC微量水分析儀總代理

QBYV的易拉蓋刻線檢測(cè)儀， 采用**的方法， 結(jié)合切邊光學(xué)、激光技術(shù)及*的軟件處理， 減少測(cè)量過程中人為的影晌。該系統(tǒng)有效地改進(jìn)了檢測(cè)結(jié)果的可重復(fù)性， 系統(tǒng)直接與電腦聯(lián)接，不需要任何外圍設(shè)備如解碼qi、外設(shè)顯示屏， 因而大大減少了成本和維修費(fèi)用。

SRG-4000易拉蓋刻線殘余量測(cè)定儀優(yōu)勢(shì)CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

● 采用激光聚焦技術(shù)

● 適用全部易拉蓋型

● 可測(cè)量易拉蓋的鉚釘直徑和厚度

SRG-4000易拉蓋刻線殘余量測(cè)定儀應(yīng)用CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

● 飲料易拉蓋刻痕殘余尺寸測(cè)量

● 食品易拉蓋刻痕殘余尺寸測(cè)量

SRG-4000易拉蓋刻線殘余量測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司