二極管陣列檢測(cè)器（DAD）和紫外/可見(jiàn)檢測(cè)器(UV/VIS)都是液相色譜（包括離子色譜）中常見(jiàn)的光學(xué)檢測(cè)器

     二極管陣列檢測(cè)器（DAD）和紫外/可見(jiàn)檢測(cè)器(UV/VIS)都是液相色譜（包括離子色譜）中常見(jiàn)的光學(xué)檢測(cè)器。二極管陣列檢測(cè)器可以實(shí)時(shí)掃描全光譜吸收?qǐng)D，因此可以判斷色譜峰中是否有干擾存在，這是紫外/可見(jiàn)檢測(cè)器所不具備的優(yōu)勢(shì)；特別是對(duì)于基體復(fù)雜、有潛在光譜干擾（例如有顏色的）的樣品來(lái)說(shuō)，二極管陣列檢測(cè)器具備更強(qiáng)的抗力。然而，二極管陣列檢測(cè)器需要用到較復(fù)雜的光譜處理軟件，使用難度較大；另外由于光路設(shè)計(jì)的緣故使得噪聲較大，檢出限不盡如人意。PRIN-CEN充分了解痕量六價(jià)鉻分析項(xiàng)目對(duì)儀器的要求，同時(shí)深入研究了二極管陣列檢測(cè)器光路設(shè)計(jì)，并且按照痕量六價(jià)鉻分析的要求對(duì)硬件和軟件都進(jìn)行了改良，從而推出了Trace Light Detector。 它將實(shí)時(shí)干擾扣除技術(shù)和高強(qiáng)度光源/長(zhǎng)光程流通池技術(shù)相融合（長(zhǎng)光程流通池是CEN/TC 52/WG 5/TG 2 N 162，EN 71-3 - Proposal for Chromium VI test method中推薦的配置）。實(shí)踐證明Trace Light Detector具有出色的靈敏度和的抗力。