LK V系列三坐標(biāo)測量儀基本能滿足小尺寸到大尺寸測量解決方案的苛刻要求，如所有LK高精度三坐標(biāo)測量儀一樣，使用陶瓷材料來建造該三坐標(biāo)測量儀中非常重要的橋和主軸部件，再加上已成熟的空氣軸承設(shè)計(jì)，從而提供了高的剛度和穩(wěn)定性，提高了其重復(fù)測量精度

主要特性

• 花崗巖工作臺和X導(dǎo)軌
• 陶瓷Y導(dǎo)軌和Z導(dǎo)軌
• 高性能空氣軸承
• 零遲滯摩擦傳動裝置
• Renishaw光柵尺（0.1µm）
• 測頭系統(tǒng)：觸發(fā)、模擬或激光測頭
• 逐點(diǎn)或連續(xù)掃描
• 探針和/或測頭交換

主要優(yōu)點(diǎn)

• 優(yōu)異性能
• 高速度/ 高加速度，循環(huán)時(shí)間短
• 高精度
• 靈活的多種測頭平臺:
  接觸式測頭、模擬掃描、數(shù)字掃描
• 承載能力大的工作臺

典型應(yīng)用

• 機(jī)加工零部件和沖壓件
• 塑料模具
• 鑄件和鍛件
• 觸發(fā)式檢測和非接觸式檢測
• 掃描和逆向工程

技術(shù)指標(biāo)