納米級光學干涉測厚儀

應用： PET、PE、PMMA等薄膜·離型膜·沉積膜·金屬表面漆膜涂層·膜涂層·塑料涂層

產(chǎn)品簡介：

PSD-2000型在線納米級光學膜厚儀利用光譜相干測量學，用于測量半導體制造過程中的薄膜厚度，以及安裝在半導體制造設備上的APC和薄膜的質(zhì)量控制，能夠測量單層/多層/涂布層在不透光基板上的厚度，精準度可達納米級。   

PSD-2000型在線納米級光學膜厚儀，其核心部件主要源自于美國Ocean Optics有限公司，其微型光譜儀體積小巧，可對全譜進行快速采集，產(chǎn)品應用廣泛，可用于生化、光電、航空航天、環(huán)境保護、安全檢測、農(nóng)業(yè)等行業(yè)，可進行 Low-E玻璃鍍膜檢測，ITO玻璃鍍膜檢測，PET涂布在線膜厚檢測，金屬表面涂層檢測，半導體，LCD膜厚檢測等。 

工作原理：分光干涉法

當光入射到樣品內(nèi)部，會發(fā)生多重反射現(xiàn)象，多重反射光會由于相互之間的相位差增強或減弱，而相位差取決于樣品的折射率和光程，因此來自于樣本的反射光譜與其厚度有直接關系。光譜干涉法就是利用這種的光譜分析出樣品的厚度，該厚度測量儀器根據(jù)測試范圍的不同主要使用曲線擬合和FFT兩種方法對光譜進行分析。

應用范圍： 

?PET薄膜厚度測量

?涂層厚度測量，如HC，保護膜，光刻膠，OCA，離型膜等涂布厚度或克重的測量

?用于包裝的PET表面介質(zhì)膜克重或膜厚測量

?金屬表面透明和半透明漆膜涂層

產(chǎn)品優(yōu)勢：

在線掃描式或多點測量（多達15點）同時測量

通過光強波動校正功能實現(xiàn)長時間穩(wěn)定測量

提醒及警報功能(通過或失敗)

反射(透射)和光譜測量

同步測量多層厚度

高速、高準確度

參數(shù)：

PSD-200實驗室型納米級光學干涉測厚儀

用途：

·太陽能減反膜玻璃，TCO玻璃，Low-E玻璃，ITO玻璃，光學玻璃鍍膜等測量。

·PET膜透明膠膜厚測量

·膜厚，顏色，粗糙度，透過率，反射率，霧度

·可用于實驗室離線測量

技術(shù)水平：

·精度0.1%，達到國際同類產(chǎn)品水平

·檢測透明和半透明涂層

·反射式太陽能玻璃的膜厚/折射率測量儀，具有測量速度快，測量準確，操作簡便的特點。

技術(shù)參數(shù)：