OES光電直讀光譜檢驗儀器
檢測鋼鐵元素成分含量（含各種合金，不銹鋼等），精度更高穩(wěn)定性更好的是實驗室使用的專業(yè)測試鋼材成分設(shè)備的OES光電直讀光譜儀，介紹如下：
OES光譜儀可應(yīng)用于固體金屬樣品的元素定量分析及牌號鑒定。光學(xué)系統(tǒng)采用 CCD 檢測器，光譜范圍覆蓋全部典型材料。儀器裝備有開放式氬氣沖洗火花臺設(shè)計，適合不同形狀和尺寸的樣品分析。
OES光譜儀技術(shù)參數(shù)光譜儀光學(xué)系統(tǒng)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)，羅蘭圓光學(xué)系統(tǒng)
光柵焦距：400mm
波長范圍：130–800 nm、160–800 nm、200–800 nm 三種規(guī)格
探測器：多塊高性能線陣 CCD
光室溫度：自動控制恒溫：34℃±0.5℃
像素分辨率：30pm
光柵刻線：3600 l/mm
一級光譜線色散率：1.2 nm/mm
外部入射窗口，方便清洗及更換
漂移校正功能-得益于自動尋峰功能（精確度達到 0.1 像素）
紫外波段靈敏度，得益于全新改良的真空技術(shù)數(shù)字等離子發(fā)生器
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高效得益于緊湊的設(shè)計和半導(dǎo)體控制技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
激發(fā)參數(shù)可通過用戶界面由用戶根據(jù)實際需求自定義進行設(shè)置
頻率 100–1000Hz
電流 1-80A
優(yōu)化的樣品臺
開放式樣品臺設(shè)計，滿足大樣品測試要求
4mm 樣品臺分析間隙
“噴射電極”技術(shù)輕松應(yīng)對小樣品及復(fù)雜幾何形狀樣品
低氬氣消耗,待機時:無須待機流量
定制異性樣品適配器
不同基體無須更換火花臺
優(yōu)化的雜質(zhì)排出系統(tǒng)
牢固的銅制樣品臺散熱效果計算機及讀出系統(tǒng)
品牌電腦
處理器：AMD 雙核 64X2 5200+
芯 片：AMD 690G + AMD SB600
內(nèi) 存：1GB DDR 2
硬 盤：>250 GB
光 驅(qū)：DVD
顯示器：19 寸液晶顯示器數(shù)據(jù)輸出
數(shù)據(jù)以多種數(shù)據(jù)形式存儲
可接駁各種標準打印設(shè)備
數(shù)據(jù)可通過互聯(lián)網(wǎng)遠程發(fā)送傳輸軟件系統(tǒng)
Windows 7 操作系統(tǒng)
中文或英文光譜儀操作軟件 可選數(shù)據(jù)維護程序
電源要求：
AC220 V /50 Hz
最大功率 880 W (主機 350W，真空泵 500W，電腦 30W)
平均功率 600 W（主機 350W，真空泵 500W，電腦 30W）
待機功率 60W
16 A 慢熔保險絲氬氣要求：
純氬氣, 99.999%; 氬氣減壓閥（專配減壓閥）
氣壓＞4MPa; 出口儀器氣壓 0.5MPa
銅管傳輸
OES光電直讀光譜檢驗儀器
