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SPECTRO ICP-MS 雙聚焦ICP-MS等離子質(zhì)譜儀（SPECTRO MS）
面議2339簡(jiǎn)介：*全譜同時(shí)測(cè)量的質(zhì)譜儀。雙聚焦扇型磁場(chǎng)質(zhì)譜儀，無(wú)須掃描。新型的長(zhǎng)120mm有4800個(gè)通道的DCD檢測(cè)器安裝在磁場(chǎng)的焦平面上,同時(shí)復(fù)蓋全部無(wú)機(jī)質(zhì)譜范圍,實(shí)現(xiàn)全譜同時(shí)檢測(cè)。它分析速度快,實(shí)時(shí)內(nèi)標(biāo),并...
北京卓信博澳儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢(xún)價(jià) -
EQS 二次離子質(zhì)譜儀
面議0簡(jiǎn)介：EQS是差式泵式二次離子質(zhì)譜（SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe），可分析來(lái)自固體樣品的二次陰、陽(yáng)離子和中性粒子。采用技術(shù)的SIMS探針...
北京英格海德分析技術(shù)有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：我要詢(xún)價(jià) -
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)
面議0簡(jiǎn)介：飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)
美國(guó)安普科技中心 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：我要詢(xún)價(jià) -
二次離子質(zhì)譜 IMS 7f
面議0簡(jiǎn)介：1、眾多獨(dú)立分析實(shí)驗(yàn)室的主力軍2、通用磁扇區(qū)二次離子質(zhì)譜儀：比飛行時(shí)間（TOF）SIMS要快，比四級(jí)桿SIMS質(zhì)量分辨率要高3、高靈敏度痕量元素分析：ppm-ppb級(jí)4、痕量元素深度剖析：亞微米級(jí)...
深圳賽普思科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：深圳市我要詢(xún)價(jià) -
高分辨率二次離子質(zhì)譜NanoSIMS 50L
面議0簡(jiǎn)介：1、專(zhuān)門(mén)針對(duì)同位素以及痕量元素的高空間分辨率的二次離子探針2、具有*的橫向分辨率，痕量元素和同位素高靈敏度-高空間分辨率（zui小到50nm）-高靈敏度（元素分布圖像ppm）-高質(zhì)量分辨率（M/d...
深圳賽普思科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：深圳市我要詢(xún)價(jià) -
大型二次離子質(zhì)譜 IMS 1280-HR
面議0簡(jiǎn)介：?針對(duì)地質(zhì)領(lǐng)域和環(huán)境科學(xué)分析專(zhuān)門(mén)而設(shè)計(jì)、注重原位分析?具有超高的靈敏度?U-Pb地質(zhì)學(xué)定年、穩(wěn)定同位素分析、痕量元素以及放射性顆粒分析的zui高水平分析儀器
深圳賽普思科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：深圳市我要詢(xún)價(jià)