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簡介：AFM探針，原子力顯微鏡探針，veeco探針，Bruker探針

簡介：的研究儀器不是只能獲得預(yù)計實驗數(shù)據(jù)，而是增加實際研究效率。Bruker’sBioScope?Catalyst?原子力顯微鏡（AFM）能夠節(jié)省工作時間，不必費力將光學(xué)顯微鏡已經(jīng)證實的技術(shù)和原子力顯微...

簡介：DimensionEdge原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)擁有的技術(shù)，從而使其在運行性，功能性，實用性上達到zui高水平。基于*DimensionIcon平臺，Edge的設(shè)計系統(tǒng)能從上到下產(chǎn)生低漂移低偏...

簡介：掃描速度的全新詮釋，擁有zui高的掃描分辨率，*異的儀器檢測性能DimensionFastScanTM原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM），在不損失Dimension...

簡介：Bruker’sDimension?Icon?原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)引進新的性能，功能和AFM以用于科學(xué)和工業(yè)的納米級研究。Dimension系統(tǒng)建立在世界zui廣泛應(yīng)用的大范圍樣品AFM平臺...

簡介：MSCT氮化硅探針用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；每個基片有6個懸臂，彈性系數(shù)為0.01-0.50N/m，有銳化處理，包裝數(shù)量：10根/盒針尖參數(shù)幾何：各向異性針尖高度(h)...

簡介：氮化硅探針用于接觸式、輕敲式或力的測量，高靈敏度，彈性系數(shù)極低；適用于VeecoExplorer及Caliber原子力顯微鏡等；每個基片有1個懸臂，彈性系數(shù)為0.05N/m包裝數(shù)量：10根/盒；套...

簡介：原子力顯微鏡（Atomicforcemicroscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針...

簡介：AJ-Ⅰ型掃描隧道顯微鏡性能穩(wěn)定、分辨率高，能在一般實驗環(huán)境下方便、穩(wěn)定地得到高序石墨（HOPG）表面原子圖像，滿足多種實驗教學(xué)、科研的需要。

簡介：AJ-Ⅲ型原子力顯微鏡成像能夠探測納米級的表面起伏，其中輕敲模式特別適合用于生物及其它軟件，克服了常規(guī)掃描模式的局限。