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簡介：SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀，可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子，并能*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構。

簡介：半導體粉末電阻率測試儀適用于有機、無機半導體粉末材料（包括納米級）的電阻率測量,也可以測量固體半導體材料，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測量、分選和質(zhì)量控制.電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加...

簡介：測量時，擰松繞線盤后面的止緊螺絲，讓繞線盤轉(zhuǎn)動自由后，按下電源按鈕(電源指示燈亮)，把測頭放入導管內(nèi)，于拿鋼尺電纜，讓測頭緩慢地向下移動，當測頭接觸到土層是中的磁環(huán)時，接收系統(tǒng)的音響器便會發(fā)出連續(xù)...

簡介：微電泳儀（Zeta電位儀）可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定顆粒的Zeta電位，求出等電點，...

簡介：表面微粒子計數(shù)器P-III采用先進界面技術，通過物理或氣流方式將附著在關鍵表面的顆粒重新懸浮,通過量化表面污染數(shù)據(jù)，為半導體制造中的過程控制提供標準化依據(jù)，從而優(yōu)化生產(chǎn)良率和產(chǎn)品可靠性。

簡介：典型應用化學試劑,咖啡,土壤,堅果,填充物,建筑原料,水泥熔渣,洗衣粉,礦物,砂子,種子,肥料,谷物,金屬粉末,面粉,...優(yōu)點對大樣品量也能做到準確分樣模塊化設計分樣比例設置不受級數(shù)限制可同時得...

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