科隆溫度沖擊試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)由專業(yè)工業(yè)造型設(shè)計(jì)，運(yùn)用3DCAD 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及CAPP 加工技術(shù)，使產(chǎn)品外形美觀，性能穩(wěn)定可靠。
制冷系統(tǒng)為機(jī)械壓縮式復(fù)疊制冷機(jī)組，冷卻方式為風(fēng)冷。采用數(shù)碼調(diào)溫技術(shù)，在不同工況下自動(dòng)調(diào)節(jié)冷量輸出，快速接近目標(biāo)值，并降低整機(jī)能耗。系統(tǒng)所有主件采用器件，性能可靠。全系列采用環(huán)保型R404a、R23 制冷劑。
控制系統(tǒng)采用高可靠性的硬件配置；*控制儀表，具有*的運(yùn)算控制方式，人性化的人機(jī)界面，能為客戶的測試系統(tǒng)提供相應(yīng)的同步控制；無紙化數(shù)據(jù)記錄。
一、主要技術(shù)指標(biāo)
1. 容積和尺寸：
1.1標(biāo)稱內(nèi)容積(L)：27L
1.2樣品室（提籃）尺寸（mm）：D 300×W 300×H300
1.3外形尺寸（mm）：D1650×W920×H 1400（外尺寸不包括凸出部分）
2. 溫度指標(biāo)：
2.1 溫度沖擊范圍：-65℃～+180℃
2.2高溫區(qū)溫度上限：200℃
2.3低溫區(qū)溫度下限：-70℃
2.4樣品區(qū)溫度波動(dòng)：±1.0℃ (恒溫時(shí))
2.5溫度均勻度：±2.0℃
2.6測試區(qū)溫度偏差：±2.0℃
2.7高溫區(qū)升溫時(shí)間： 25℃～150℃＜30min
2.8低溫區(qū)降溫時(shí)間： 25℃～-65℃＜70min
2.9溫度恢復(fù)時(shí)間： ≤5min；暴露時(shí)間30min
2.10提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤5s
2.11沖擊方式：上下移動(dòng)提籃式
注：以上指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境及工況為：環(huán)境溫度25℃，工況為空載。
二、設(shè)備相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)
試驗(yàn)A:低溫（idt IEC 60068-2-1:1990）
GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)
試驗(yàn)B:高溫（idt IEC 60068-2-2:1974）
GB/T 2424.13-2002 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)
溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則（idt IEC 60068-2-33:1971）
