多功能（光電流+瞬態(tài)熒光+拉曼光譜）成像系統(tǒng)
用于二維材料的集成拉曼，光電流成像，熒光壽命等多個(gè)功能檢測(cè)的成像系統(tǒng)
該儀器是一款多功能共聚焦拉曼/熒光/光電流/熒光壽命（瞬態(tài)熒光）檢測(cè)光譜成像系統(tǒng)，采用透射式光路設(shè)計(jì)，提高了產(chǎn)品的靈敏度和穩(wěn)定性。*的振鏡掃描技術(shù)能夠在臺(tái)面固定不動(dòng)的情況下實(shí)現(xiàn)快速二維成像掃描。該技術(shù)在聯(lián)用光電流成像系統(tǒng)載臺(tái)時(shí)優(yōu)勢(shì)明顯，并且可擴(kuò)展增加熒光壽命檢測(cè)系統(tǒng)。可實(shí)現(xiàn)拉曼/PL/光電流/熒光時(shí)間壽命/熒光檢測(cè)等功能。
整個(gè)系統(tǒng)的構(gòu)成如下圖，需要測(cè)量拉曼和熒光信號(hào)時(shí)，樣品激發(fā)的拉曼信號(hào)和熒光信號(hào)通過(guò)顯微鏡，再由光譜儀分光至CCD檢測(cè)器接收，計(jì)算機(jī)軟件讀出拉曼和熒光的光譜信號(hào)并掃描成圖像輸出。需要測(cè)量熒光時(shí)間壽命時(shí)，轉(zhuǎn)換器將樣品激發(fā)的瞬態(tài)熒光信號(hào)分光至TCSPC（單光子計(jì)數(shù)器），通過(guò)單光子計(jì)數(shù)器記錄熒光的時(shí)間壽命。需要測(cè)量光電流時(shí)，接上探針臺(tái)和電流計(jì)，激光激發(fā)樣品產(chǎn)生的光電流信號(hào)通過(guò)探針引出至電流計(jì)，再讀出至電腦軟件，記錄整個(gè)檢測(cè)面的電流分布。
關(guān)鍵參數(shù)：
激光器 ?
l可配置1~3個(gè)激光器，窄線寬激光器用于拉曼光譜測(cè)試和光電流測(cè)試/皮秒激光器用于熒光壽命檢測(cè)。
l波長(zhǎng)范圍： 400~ 900nm （典型的為 VIS: 405nm/532nm/633nm, NIR :785nm）
l窄線寬連續(xù)激光器功率： 100mW
l皮秒激光器（PDL800）：80MHZ，脈寬 6ns，波長(zhǎng)：266nm ~1990nm
顯微鏡 ?
l奧林巴斯顯微鏡：BX4X, BX5X, BX61 （正置）
l反射式/透射式LED照明
l物鏡：標(biāo)配（40X， NA=0.75） 選配：多種倍率和超長(zhǎng)焦距物鏡
l透過(guò)率：＞60% （360nm~1000nm）
掃描模塊 ?
l掃描面積：200um×200um
l掃描精度： 小于0.02 um（分辨率）， ＜0.1um（重復(fù)性）
l步進(jìn)：0.1um
l掃描速度：＞100 譜/秒
探測(cè)器 ?
l科學(xué)級(jí)TEC制冷CCD（Andor和PI）用于測(cè)量拉曼和熒光
lSPAD單光子探測(cè)器（TCSPC）用于瞬態(tài)光譜測(cè)量（FLIM）熒光時(shí)間壽命
電流計(jì) ?
lKeithley 2400
探針臺(tái) ?
l可根據(jù)客戶要求定制
拉曼 ?
l光譜范圍：50~5900 cm-1（標(biāo)準(zhǔn)的）
l低波數(shù)拉曼模塊： 可實(shí)現(xiàn)＜ 250px-1
l分辨率：2.5 cm-1
熒光 ?
l光譜范圍：400~1100nm
l分辨率：0.2nm
熒光壽命（FLIM） ?
l測(cè)量范圍：100ps~ 10um
l分辨率：25ps
光電流成像
l激光器波長(zhǎng)范圍：VIS： 450~700nm
NIR I： 650~1050nm
NIR II： 1050~1550nm
l典型的 532nm/633nm/785nm/1550nm
l連續(xù)光源范圍：450nm ~2400nm， 功率＞ 110mW
產(chǎn)品特點(diǎn)：
激光掃描技術(shù),具有優(yōu)異的掃描分辨率和重復(fù)性
（激光掃描分辨率< 0.02 um & 重復(fù)性< 0.1 μm）
體相全息光柵光譜儀
（光透過(guò)率>90%,比反射式光柵高30%,信號(hào)傳輸效率更高）
具有Raman/PL/光電流/熒光壽命檢測(cè)等多種測(cè)量模式
結(jié)構(gòu)緊湊,模塊化設(shè)計(jì)
掃描速度快,掃描范圍大200µm x 200µm范圍內(nèi)高速成像 & 2D Mapping
應(yīng)用領(lǐng)域：
石墨烯，二維材料，生物樣本，半導(dǎo)體工業(yè)，碳納米管，碳材料，太陽(yáng)能電池，儲(chǔ)能材料，納米纖維分布，探測(cè)器光電性能檢測(cè)，晶圓體分析，制藥分析，納米材料檢測(cè)，生物細(xì)胞成像，微塑料檢測(cè)，金剛石微粉檢測(cè)。
