3VEDX-8300H真空型光譜儀鎂鋁合金分析儀 EDX8300H配備抽真空，更好地應對RoHS、無鹵等環(huán)保指令，配置了真空測試系統(tǒng)，增加了元素測試范圍，探測器配備SDD的測試系統(tǒng)，特別是提高了Na、Mg、Al、Si等輕元素的檢出限，度提高了，同時在測試Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重復性穩(wěn)定性有了明顯的提高。
整體結構化設計，儀器美觀大方。

  3VEDX-8300H真空型光譜儀鎂鋁合金分析儀3VEDX-8300H真空型光譜儀鎂鋁合金分析儀3VEDX-8300H真空型光譜儀鎂鋁合金分析儀3VEDX-8300H真空型光譜儀鎂鋁合金分析儀技術性能及指標:
元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)；
元素含量分析范圍為1PPm到99.99%；
測量時間：100-300秒(可調)；
同時分析鍍層層數(shù)：多達3層
鍍層檢測厚度范圍：0.05-40μm（視材料類型而有所不同）
采用微聚焦準直技術，小可達Ф0.5mm,應對小樣品和不規(guī)則樣品測試輕松自如。
RoHS指令有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其檢出限高達1PPM，Cl高達50PPM；
探測器：美國電致冷SDD半導體探測器，能量分辨率：129±5eV；
高壓系統(tǒng) ：50KV/1mA；
X光管：50W，鈹窗，50kV/1000uA。
產(chǎn)品特點
EDX8300H配備抽真空，更好地應對RoHS、無鹵等環(huán)保指令，配置了真空測試系統(tǒng)，增加了元素測試范圍，探測器配備SDD的測試系統(tǒng)，特別是提高了Na、Mg、Al、Si等輕元素的檢出限，度提高了，同時在測試Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重復性穩(wěn)定性有了明顯的提高。
整體結構化設計，儀器美觀大方。
采用美國的SDD探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析準確且維護成本低。
采用自主研發(fā)的SES信號處理系統(tǒng)，有效提高峰背比，讓測量更***。
一鍵式自動測試，使用更簡單，更方便，界面更人性化。
七種光路校正準直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品自動切換。
多重防輻射泄露設計，輻射防護級別屬于同類產(chǎn)品高級。
優(yōu)化一體化散熱設計，使整機散熱性能得到更大提高，確保X射線源的運行安全。
***的機芯溫度監(jiān)控技術，確保射線源的***運行，有效延長其使用壽命，降低使用成本。
多重儀器配件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全。
***真空測試軟件，是否抽真空可自由選擇，真空度實時顯示，標準視窗設計，界面友好，操作簡便，所有控制均在輕點鼠標之間。
本機采用USB2.0接口，有效保證數(shù)據(jù)準確高速***傳輸。
***的全自動真空系統(tǒng),***屏蔽空氣對輕元素測試的影響,極大提高了輕元素的檢出限，同時也擴大了檢測范圍。
一體化真空腔體設計，有效地保證了符合測試要求的真空度，同時提高了設備的可維性。
抽真空測試和不抽真空測試轉換簡單，方便客戶使用；同時開蓋即解除真空，安全、簡單實用。