CRI的Abrio成像系統(tǒng)提供了一種的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射

CRI的Abrio成像系統(tǒng)提供了一種的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射。用偏振光測量雙折射率的空間分布的傳統(tǒng)方法繁瑣且耗時。Abrio技術通過自動化定量極化顯微鏡的過程，打開了雙折射成像的大門，允許你準確地計算出每一個像素在幾秒內(nèi)的延遲幅度和方向

可檢測樣品：

l  光學材料

l  玻璃

l  聚合物

l  硅片

l  薄膜

l  鋁

l  石墨

特征：

l  每像素定量延遲數(shù)據(jù)

l  操作簡便，交互軟件

l  快速圖像采集（3s每幅）

l  延遲靈敏度到0.02nm

ABRIO成像系統(tǒng)

可視化和測量透射物體、反射物體（如玻璃，水晶，塑料，，鋁等）雙折射結構，幾秒內(nèi)實現(xiàn)所有像素點成像。該系統(tǒng)包含的外設顯微鏡綜合了的液晶偏振光對比技術，控制電路，成像算法和交互式軟件。

定量雙折射數(shù)據(jù)

空間分辨率，數(shù)據(jù)采集速率，測量范圍和靈敏度使得Abrio成像系統(tǒng)成為分析注塑件，制造中的聚合物纖維，細胞生物學中的微觀結構和制藥工業(yè)中的化合物的應力和應變的理想工具。

自動的延遲量和方位角數(shù)據(jù)

系統(tǒng)將自動計算樣本圖像中每個像素的延遲和方位數(shù)據(jù)。 原始數(shù)據(jù)和計算數(shù)據(jù)都可以存儲用于記錄和審查。

背景更正

系統(tǒng)將使用算法自動計算背景信息，以獲得高靈敏度和準確度。

偏振方向無關

的CRI的Abrio成像技術，偏振圖像是獨立于偏振器或標本的方向。 這導致了亮度，細節(jié)和清晰度均勻的圖像。

快速圖像采集

CRI簡易的軟件程序可讓您在幾秒鐘內(nèi)生成處理后的圖像

無移動部件

不需要手動操作或樣品。 計算機控制的基于液晶的光學系統(tǒng)可以產(chǎn)生的像素到像素圖像配準和準確的偏振控制。

全面的軟件分析工具

軟件工具可用于分析各種延遲量值和方向參數(shù)，

包含：

?線掃描

?偽彩色覆蓋

?單像素測量

?矢量疊加

?閾值

?面積計算

系統(tǒng)部件

基于液晶的偏振補償器

Abrio光學系統(tǒng)的核心是液晶（LC）組件，它可以改變光線的，而不會使部件運動，產(chǎn)生噪聲，最重要的是沒有圖像偏移。

綠色帶通

當通過目鏡觀察時，546納米將使圖像呈現(xiàn)高對比度綠色，這對于LC偏振補償光學器件是的。

圓偏振片

圓偏振器放置在光源和樣品之間。 確切位置取決于您的顯微鏡品牌和型號。

光耦合器

在顯微鏡的相機端口和相機之間放置0.45x或0.5x光耦合器。 這增加了入射CCD的光量，從而減少了圖像捕獲時間。

CCD相機，計算機和顯示器

這些組件和預安裝的PCI板卡允許您捕捉數(shù)字圖像。數(shù)字圖像可以進行處理，歸檔，導出或檢索，而不會損失質(zhì)量。