JEM-ARM200F差校正透射電鏡可用于成分，形貌，結(jié)構(gòu)分析測試。獲得樣品表面形貌，粒徑等相關(guān)信息。用于獲得明、暗場像的襯度像進行分析。直接觀察晶體樣品中輕元素的原子陣列，還可以同時獲取STEM-HAADF像，極大增強觀察、分析能力。原子像，選區(qū)電子衍射，會聚束電子衍射；對樣品在納米尺度的精細結(jié)構(gòu)和化學(xué)成份進行高水平表征檢測。