產品概述： 高溫老化室是針對高性能電子產品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產品，電源供應器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設備，是提高產品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備、是各生產企業(yè)提高產品質量和競爭性的重要生產流程。

主要技術指標:

設計溫度范圍：RT+5℃ ～ +60℃或85℃(RT- 房間環(huán)境溫度)

溫度偏差： ≤±2℃ (空載，工作區(qū)域內測試，工作區(qū)域指距四邊及頂底內壁300MM的區(qū)域) ≤±2℃(滿載，工作區(qū)域內測試，工作區(qū)域指距四邊及頂底內壁300MM的區(qū)域，負載總發(fā)熱量＜15KW)

設定溫度精度：0.5℃

外形尺寸：根據實際要求而定

工作室尺寸：根據實際要求而定

大門尺寸：根據要求而定

觀察窗尺寸：根據要求而定

升溫速度： 常溫～85℃≤30min

加熱器功率：根據客戶實際要求而定

恒定時的加熱器功率:根據客戶待產品要求而定

高溫老化室總配電電源：380V/3PH/50HZ

運行方式： 全自動定值運行 產品測試電源：根據客戶實際要求而定,單獨開關控制

高溫老化室設計容量：根據客戶實際要求而定,

高溫老化房的使用條件:環(huán)境溫度-10℃～40℃，濕度< 90%RH