高溫老化室

本產(chǎn)品是針對高性能電子產(chǎn)品（如：顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、計算機、通訊、生物制藥等領(lǐng)域；
主要參數(shù)：
1.內(nèi)箱尺寸D3000mm×W2200mm×H2500mm
2.外形尺寸D3500mm×W2600mm×H2700mm
3.門洞尺寸 W2200mm×H2500mm
滿足試驗標準：
GJB150.3 高溫試驗
GB/T2423. 試驗B：高溫試驗方法
GB/T5170. 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備