X熒光光譜測厚儀

XU-100

產品類型：能量色散X熒光光譜分析儀

產品名稱：鍍層測厚儀

產品型號：XU-100

        XU-100鍍層測厚是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度的鍍層測厚儀，C型開槽設計樣品腔，讓其滿足了既可測量超微小樣品的檢測，同時還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測量。

被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

1）搭載微聚焦加強型X射線發(fā)生器和的光路轉換聚焦系統(tǒng)，*小測量面積達0.03mm2

2）擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm

3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測**層Ni和第三層Ni的厚度）

4）配備高精密微型移動滑軌，可實現(xiàn)多點位、多樣品的精準位移和同時檢測

5）可同時分析23個鍍層，24種元素，測量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層*低檢出限：0.005μm

6）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

7）配有微光聚集技術，*近測距光斑擴散度10%

行業(yè)應用：釹鐵硼鍍鎳鍍銅鍍鎳（Ni/Cu/Ni/NdFeB）

釹鐵硼磁鐵具有優(yōu)異的磁性能，被廣泛應用于電子、電力機械、、玩具、包裝、五金機械、航天航空等領域。

釹鐵硼磁鐵的常見的電鍍方式為鍍鎳鍍銅再鍍鎳，由于該類鍍層方式中同一元素Ni鍍層分布在不同的層級，加上X射線熒光檢測的是元素的熒光能量，對于分布在不同層的同一元素，普通儀器不能具體區(qū)分熒光來自具體的哪一層。

因此，目前采用X射線熒光法測試的都是計算兩層Ni的總厚度，由于不同層之間的元素吸收增強效應，測試總體厚度與實際的測試結果還是存在較大誤差，同時也不能反映產品的實際真實情況。

一六儀器專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和FP法的基礎上，計算樣品中每個元素的一次熒光，二次熒光，靶材熒光，吸收增強效應，散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，解決了釹鐵硼磁鐵上鍍鎳鍍銅再鍍鎳的業(yè)界難題。 

下述檢測報告已經真實的反應出了，XT-100這款儀器是可以很好的解決多鍍層，甚至不同層有相同元素的鍍種也可分析檢測。