CSK-IB（CSK-IA、CSK-IB、 CSK-ZB）這3個(gè)型號是同一試塊，在JB/T8428-2006第6頁有說明，CSK-IA和CSK-IB兩個(gè)試塊的主要區(qū)別在于：CSK-IA只有K值刻度,CSK—IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。

CSK-IB（CSK-IA、CSK-IB、 CSK-ZB）

這3個(gè)型號是同一試塊，在JB/T8428-2006第6頁有說明

兩個(gè)試塊的主要區(qū)別在于：CSK-IA只有K值刻度,CSK—IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。

使用要點(diǎn)如下：

1)利用厚度25mm測定探傷儀的水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍；

2)利用厚度25mm和高度100mm調(diào)整縱波探測范圍；

3)利用R50和R100校定時(shí)基線或測定斜探頭的入射點(diǎn)；

4)利用高度85、91、100ram測定直探頭的分辨力；

5)利用中40、中44、中50ram曲面測定斜探頭的分辨力；

6)利用中50有機(jī)玻璃圓孔測定直探頭盲區(qū)和穿透能力；

7)利用中50曲面和巾1．5橫孔測定斜探頭的K值；

8)利用高度9lmm(縱波聲程9lmm相當(dāng)于橫波50mm)調(diào)節(jié)橫波1：1掃描速度，配合R100作零位校正；

9)、利用試塊直角棱邊測定斜探頭的聲軸偏斜角。