MATS-3000SS軟磁材料交直流疊加測(cè)量裝置可用于軟磁材料靜態(tài)（直流）、動(dòng)態(tài)（交流）和交直流疊加條件下的磁性參數(shù)測(cè)量?！　ATS-3000SS軟磁材料交直流疊加測(cè)量裝置由MATS-2010SD軟磁直流測(cè)量裝置、MATS-3010SA軟磁材料動(dòng)態(tài)測(cè)量裝置和ADM-200交直流疊加控制器等測(cè)量模塊組成?！　ATS-2010SD軟磁直流測(cè)量裝置可測(cè)量軟磁材料在靜態(tài)（直流）條件下的基本磁化曲線和磁滯回線，準(zhǔn)確測(cè)量起始磁導(dǎo)率μi、磁導(dǎo)率μm、飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度Bs、剩磁Br、矯頑力Hc和磁滯損耗Pu等靜態(tài)磁特性參數(shù)?！　ATS-3010SA軟磁材料動(dòng)態(tài)測(cè)量裝置可測(cè)量軟磁材料在1kHz～200kHz條件下的動(dòng)態(tài)磁滯回線，準(zhǔn)確測(cè)量振幅磁導(dǎo)率μa、損耗角δ、比總損耗Ps、剩磁Br、矯頑力Hc等動(dòng)態(tài)磁特性參數(shù)?！　ATS-2010SD軟磁直流測(cè)量裝置、MATS-3010SA軟磁材料動(dòng)態(tài)測(cè)量裝置和ADM-200交直流疊加控制器協(xié)同工作可測(cè)量軟磁材料在頻率為10kHz~200kHz直流偏置條件下的交直流疊加控制磁化曲線和交直流疊加損耗曲線。

1、靜態(tài)（直流）測(cè)量
測(cè)試樣品的種類：軟磁鐵氧體、坡莫合金、非晶、納米晶、鐵粉芯、電工純鐵和硅鋼片等軟磁材料。
測(cè)試樣品的形狀：環(huán)形、E形、U形等閉路樣品直接繞線測(cè)量。
閉路樣品直接繞線測(cè)量：樣品、磁化線圈（N1）、測(cè)量線圈（N2）共同組成一個(gè)空載變壓器。
通過測(cè)量磁化電流來測(cè)量磁場(chǎng)強(qiáng)度，磁場(chǎng)鎖定精度高達(dá)0.1%。
采用電子積分器測(cè)量磁感應(yīng)強(qiáng)度，積分器零點(diǎn)漂移通過軟件自動(dòng)修正。
測(cè)試方法：模擬沖擊法和磁場(chǎng)掃描法。
采用模擬沖擊法測(cè)量基本磁化曲線，可準(zhǔn)確測(cè)量磁化曲線上的磁特性參數(shù)：μi、μm、Bs、任意一點(diǎn)的、μ值。
采用模擬沖擊法和磁場(chǎng)掃描法測(cè)量飽和磁滯回線，可準(zhǔn)確測(cè)量磁滯回線上的磁特性參數(shù)：Bs、Br、Hc、Pu。特別說明：模擬沖擊法測(cè)量磁滯回線是本公司測(cè)量方法，可使Hc、Pu的準(zhǔn)確度提高。
測(cè)試μi前，有自動(dòng)退磁功能，退磁頻率1Hz-200Hz可選。
采用模擬沖擊法測(cè)量時(shí)，可選擇測(cè)試單個(gè)參數(shù)以節(jié)省時(shí)間，每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的時(shí)間可設(shè)為1秒～5秒。
采用B速反饋，能根據(jù)樣品磁特性曲線的形狀自動(dòng)調(diào)整測(cè)試點(diǎn)的疏密，也可按用戶預(yù)先定義的測(cè)試點(diǎn)更精確地測(cè)量曲線。
 
2、動(dòng)態(tài)（交流）測(cè)量
采用伏安法和數(shù)字積分測(cè)量動(dòng)態(tài)磁滯回線，可準(zhǔn)確測(cè)量μa、δ、Ps、Br和Hc，可推算特定條件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等動(dòng)態(tài)磁性參數(shù)。
第三代信號(hào)源技術(shù)，具有較高的頻率和相位穩(wěn)定度；初級(jí)輸出低至0.01V時(shí)，仍保持較高的信噪比。
運(yùn)用數(shù)字動(dòng)態(tài)反饋處理技術(shù)，次級(jí)電壓信號(hào)測(cè)量最小可達(dá)到0.05Vrms。
全頻率范圍鎖定磁場(chǎng)測(cè)量，初級(jí)勵(lì)磁電流最小分辯率0.01mA?？蓾M足軟磁鐵氧體和非晶等材料初始磁導(dǎo)率ui和飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度Bs測(cè)量。
數(shù)字程控電源具備自主換檔功能，可根據(jù)材料特性自動(dòng)匹配輸出檔位和采樣量程，有效的提高了設(shè)備的安全性和測(cè)量精度。
裝置主機(jī)整體散熱風(fēng)道設(shè)計(jì)，可滿足連續(xù)裝置在連續(xù)大功率條件測(cè)量環(huán)境下的可靠性。
裝置主機(jī)采用4.5寸854×480高分辨率IPS顯示屏，實(shí)時(shí)顯示電壓參數(shù)和波形狀態(tài)。
自動(dòng)連續(xù)測(cè)量多達(dá)255個(gè)測(cè)試點(diǎn)，每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試時(shí)間約12秒（與樣品相關(guān)），多點(diǎn)測(cè)試可選擇固定頻率、固定Bm或固定Hm。