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PMDT2010 雙脈沖測試功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

參考價	￥ 1000
訂貨量	≥1臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 武漢普賽斯儀表有限公司
品牌
型號 PMDT2010
所在地 武漢市
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2025/5/22 13:40:41
訪問次數(shù) 7

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

PMDT雙脈沖測試功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是一款專用于MOSFET、IGBT、SiC MOS等器件的動態(tài)參數(shù)測試，能夠安全便捷的測試功率器件的開關延時和損耗，評估器件的安全工作區(qū)，對器件和驅(qū)動電路的短路保護特性進行驗證，測量功率組件的雜散電感

詳細信息在線詢價

系統(tǒng)概述

PMDT功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是一款專用于MOSFET、IGBT、SiC MOS等器件的動態(tài)參數(shù)測試，能夠安全便捷的測試功率器件的開關延時和損耗，評估器件的安全工作區(qū)，對器件和驅(qū)動電路的短路保護特性進行驗證，測量功率組件的雜散電感。設備既可以用于功率器件選型評估，又可以用于驅(qū)動電路和功率母排的優(yōu)化設計，能夠幫助用戶開發(fā)性能更優(yōu)化、工作更可靠的電力電子功率平臺。

雙脈沖測試功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

系統(tǒng)組成

PMDT功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)主要由雙脈沖信號發(fā)生器，高分辨率示波器，高壓電流探頭，高壓電源、母線電容、低雜感母排、自動化測試軟件以及配套測試工裝組成。系統(tǒng)配備多種測試驅(qū)動板，可覆蓋開關參數(shù)測試、柵極電荷測試、短路測試、雪崩測試等，單次測試即可完成開關特性及反向恢復特性測試；具備數(shù)據(jù)管理功能，可實時保存測試結果及波形曲線，自動生成測試報告
系統(tǒng)特點

高電壓達2000V（蕞大擴展至8kV）

大電流達2000A（可擴展至6000A）

低寄生電感設計：＜20nH寄生電感

安全防護機制：集成防爆、過流/過壓保護

全功能測試覆蓋：支持DPT、RBSOA、 SCSOA、Qg等參數(shù)

自動化與智能化，負載電感自動切換

溫度范圍廣：可選高溫模塊(常溫-200℃)或熱流儀(-40℃-200℃)

兼容多種封裝，可根據(jù)測試需求定制夾具

測試參數(shù)

開通特性：開通延時時間td(on)、開通上升時間tr、開通時間ton、開通能量損耗E(on)、開通電壓斜率dv/dt、開通電流斜率di/dt、Id vs.t、Vds vs.t、Vgs vs.t、Ig vs.t

關斷特性：關斷延時時間td(off)、關斷上升時間tf、關斷時間toff、關斷能量損耗E(off)、關斷電壓斜率dv/dt、關斷電流斜率di/dt、Id vs. t、Vds vs. t、Vgs vs. t、Ig vs.t

反向恢復特性：反向恢復時間trr、反向恢復電荷Qrr、反向恢復能量Err、蕞大反向恢復電流Irrm、反向恢復電壓斜率dv/dt、反向恢復電流斜率di/dt、反向恢復電流特性Id vs.t

短路特性：短路時間Tsc、短路飽和電流Iscsat、Vce尖峰 VCEmax、短路能量Esc、短路功率Psc

柵極電荷：總柵極電荷Qg、閾值柵極電荷Qgs(th)、柵源電荷Qgs、柵漏電荷Qgd、柵極申荷曲線Vgs vs.t

反偏安全工作區(qū)：關斷電壓尖峰VCE—peak、關斷電流尖峰lc、Vce vs.t、lc vs.t

測試夾具

針對市面上不同封裝類型的功率半導體，如IGBT、SiC、MOS等產(chǎn)品，普賽斯提供整套測試夾具解決方案，可用于T0單管，半橋模組等產(chǎn)品的測試

雙脈沖測試功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

PMDT系列功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，2000V/2000A雙脈沖測試電壓電流范圍，12kA蕞大短路電流，＜20nH超低主回路雜感，<2us過流保護時間，更多有關雙脈沖測試功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)的信息上普賽斯儀表官&網(wǎng)咨詢