■ 無需再磁場翻轉(zhuǎn)

■ 可匹配類型的磁環(huán)境

■ 測量速度是目前業(yè)內(nèi)常規(guī)霍爾的100倍

■ 理想的超低遷移率材料的測試設(shè)備

霍爾效應(yīng)測量是表征新型電子材料和器件的傳輸特性的關(guān)鍵。目前科研人員常規(guī)使用傳統(tǒng)的DC場方法進行，只需要穩(wěn)定的電流源，電壓表，開關(guān)和磁環(huán)境，并且對于具有較高遷移率的較簡單材料而言其測量數(shù)據(jù)相對簡單且可靠。然而，隨著科研和材料的發(fā)展，目前越來越多的材料的遷移率開始越來越低，其測試變得更加困難，測量數(shù)據(jù)也變得很糟糕，如重復(fù)性很差，霍爾電壓與理論值偏差異常大，P/N結(jié)判斷錯誤等等。特別是對于現(xiàn)在的各類新型半導(dǎo)體材料，如光伏、熱電和有機物方面的材料。

在過去的幾年中，對于低遷材料的解決辦法就是使用AC磁場技術(shù)屏蔽干擾電壓和提取較小的霍爾電壓信號，其測試數(shù)據(jù)雖然可靠，但是其中測量窗口的延長，同時也意味著熱漂移誤差的不全部去除。但延長的測量間隔也會增加熱漂移效應(yīng)的新形式誤差。隨著技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在已有一款更快速的霍爾測量儀來替代之前“漫長”AC測試，使得您可以輕松實現(xiàn)低遷材料的測試，您還在等什么呢？

快速霍爾技術(shù)就是為了可以在幾秒鐘之內(nèi)完成對于低遷移率材料的精準(zhǔn)測量，消除因為測試窗口的延長引起的熱漂移誤差。

■ 支持范德堡和霍爾巴測試

■ 支持傳統(tǒng)DC霍爾測量

■ 支持Step-By-Step操作，實現(xiàn)您想要的測試

■ 無需再進行磁場反轉(zhuǎn)

■ 無需AC磁場霍爾測量

■ 自動優(yōu)化激勵量程和測量量程

■ 遷移率支持到0.001cm2/Vs

■ 高阻選件允許測量樣品阻值 10MΩ to 200GΩ

■ 從干擾測量參數(shù)中提取有效測試數(shù)據(jù)

■ 可與簡易SCPI命令界面或MeasureLINK-MCS軟件配合使用

■ 用于簡化集成和數(shù)據(jù)傳輸?shù)臄?shù)字和

■ 模擬I/O