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用途：SS1-STD3 SunScan冠層分析系統(tǒng)是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。本系統(tǒng)不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照條件下進行測量工作。
特點：
·可測量冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）；
·可直接顯示葉面積指數（LAI）；
·陰天和晴天均可使用；
·理想的表型的應用程序。
技術參數：
Sunscan傳感器 | |
探測區(qū)域 | 長1米×寬13毫米，傳感器間距15.6毫米 |
光譜范圍 | 400~700nm（PAR） |
測量時間 | 120毫秒 |
最大讀數 | 2500 μmol.m-2.s-1 |
分辨率 | 0.3 μmol. m-2.s-1 |
線性 | 優(yōu)于1% |
精度 | ±10% |
模擬輸出 | 1mV/μmol. m-2.s-1 |
通訊端口 | RS232，9針D型接口 |
防護等級 | IP65 |
工作溫度 | 0~60℃ |
尺寸 | 1300×100×130毫米 |
重量 | 1.7公斤 |
供電 | 4節(jié)AA堿性電池，可以使用1年 |
掌上數據管理器 | |
顯示屏 | 1/4 VGA防日光顯示屏 |
操作系統(tǒng) | Windows Moble 6 |
顯示選項 | 葉面積指數（LAI）、平均光合有效輻射、所有單個傳感器的讀數 |
防護等級 | IP67 |
工作溫度 | -30~+60℃ |
跌落高度 | 1.2米 |
供電 | 可充電電池，可連續(xù)使用12小時 |
內存 | >100MB可用 |
尺寸規(guī)格 | 165×95×45毫米 |
重量 | 450克 |
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第四屆全國光譜大會
展會城市：株洲市展會時間：2025-05-08