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可評(píng)估薄膜導(dǎo)電性能的高溫四探針測(cè)試儀
￥450004370簡(jiǎn)介：可評(píng)估薄膜導(dǎo)電性能的高溫四探針測(cè)試儀采用直排四探針法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。主要用于評(píng)估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能，重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的精確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)...
北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢價(jià) -
HCTZ-2S 四探針測(cè)試儀￥400004370簡(jiǎn)介：HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄...
北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢價(jià) -
河北FT-340系列雙電測(cè)四探針電阻率/方阻測(cè)試儀
面議1404簡(jiǎn)介：
寧波瑞柯微智能科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：我要詢價(jià) -
FT-3110系列全自動(dòng)四探針測(cè)試儀
面議1404簡(jiǎn)介：
寧波瑞柯微智能科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：我要詢價(jià) -
280SI 美國(guó)四探針電阻率/方塊電阻測(cè)試儀
￥12450簡(jiǎn)介：4D公司所提供的探針質(zhì)保次數(shù)是25萬次，而實(shí)際從客戶反饋的信息是壽命達(dá)到100萬次以上，甚至150萬次以上。同時(shí)4D還為客戶提供探頭的探針更換服務(wù)，大大降低客戶的使用成本。美國(guó)四探針電阻率/方塊電...
冠乾科技（上海）有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：上海我要詢價(jià) -
RTS-2/RTS-2A型 便攜式四探針測(cè)試儀
面議1150簡(jiǎn)介：RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外...
天津諾雷信達(dá)科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：天津市我要詢價(jià) -
RTS-11型 金屬四探針測(cè)試儀
面議1150簡(jiǎn)介：于測(cè)試低阻金屬材料電阻率及方塊電阻測(cè)量范圍：電阻率：10-7～10-2Ω.cm；方塊電阻：10-6～10-1Ω/□；RTS-11型金屬四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備，該儀器按...
天津諾雷信達(dá)科技有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：天津市我要詢價(jià) -
DL07-RTS-4 出租四探針測(cè)試儀 四探針測(cè)定儀 四探針測(cè)量?jī)x
面議1462簡(jiǎn)介：測(cè)量范圍電阻率：0.001～200Ω.cm(可擴(kuò)展)；方塊電阻：0.01～2000Ω/□(可擴(kuò)展)；電導(dǎo)率：0.005～1000s/cm；電阻：0.001～200Ω.cm；
北京北信科儀分析儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢價(jià) -
HCTZ-2S 北京華測(cè)四探針測(cè)試儀
￥500004370簡(jiǎn)介：HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的...
北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢價(jià) -
高溫四探針材料測(cè)試儀￥200004370簡(jiǎn)介：可評(píng)估薄膜導(dǎo)電性能的高溫四探針測(cè)試儀采用直排四探針法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。主要用于評(píng)估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能，參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的...
北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司 會(huì)員等級(jí): 產(chǎn)地：北京市我要詢價(jià)