QUANTAX EBSD分析系統(tǒng)面向不通水平的用戶，具有簡潔易用和多功能的特點。無論是單機分析還是與EDS一體化集成，CrystAlign均能為各種不同晶體材料的研究提供更大的通用性和靈活性。其中，高性能e-Flash系列EBSD探頭是該系統(tǒng)極為重要的組成部分。

Bruker非常注重e–Flash系列探測器的設計，結合自身在電子顯微鏡設備領域數(shù)十年的開發(fā)經(jīng)驗和對用戶需求的深入了解，e–Flash

QUANTAX EBSD能譜儀

QUANTAX EBSD分析系統(tǒng)面向不通水平的用戶，具有簡潔易用和多功能的特點。無論是單機分析還是與EDS一體化集成，CrystAlign均能為各種不同晶體材料的研究提供更大的通用性和靈活性。其中，高性能e-Flash系列EBSD探頭是該系統(tǒng)極為重要的組成部分。

Bruker非常注重e–Flash系列探測器的設計，結合自身在電子顯微鏡設備領域數(shù)十年的開發(fā)經(jīng)驗和對用戶需求的深入了解，e–Flash系列探測器具有非常出色的可用性和安全特性，并支持從高速到高分辨、高靈敏度的EBSD應用。

e–Flash1000— 專注于高速EBSD分析

e–Flash1000是迄今市場上速度zui快的EBSD探測器。8x8面元模式下，該探測器提供的850patterns/s的采集速度；4x4面元模式下，采集速度可達630patterns/s。與其他EBSD系統(tǒng)相比較，該速度是當前行業(yè)內(nèi)zui快的速度（8x8面元）。

該EBSD探測器深刻表明：速度、準確度和精確度可兼得，即使在zui高采集速度下也能保證準確的相辨別。取向識別的精確度也是e–Flash1000的標準特征。右側的取向差圖描繪圖可很好的印證。

在原生分辨率（640x480像素）條件下，e–Flash1000采集速度可達210patterns/s。

e–FlashHR —專注于高分辨分析

高分辨EBSD探測器是高速EBSD探測器的有效市場補充。Bruker的e–FlashHR高分辨EBSD探測器具有1600x1200像素的原生分辨率，其提供具有驚人細節(jié)的花樣圖像。

e–FlashHR高分辨EBSD探測器具有花樣分辨率和超高信號靈敏度，能勝任材料分析中復雜而艱難的分析任務，例如：

?低束流工作

?低kV工作

?導電性差的樣品

?納米材料

?偽對稱性的分析

?晶格應變研究

保證原生分辨率1600x1200像素條件下，探測器的分析速度高達35patterns/s。zui大面元（20x20）條件下，e–FlashHR的分析速度可達170patterns/s。這使它成為當前行業(yè)內(nèi)zui快的高分辨率EBSD探測器。

豎直屏幕方位的原位調(diào)節(jié)

該功能是e–Flash探測器*的特征。在電鏡真空環(huán)境下，當探測器處于工作位置時，豎直屏幕方位具有靈活的角度調(diào)節(jié)能力。在采集設置過程中，它對信號的優(yōu)化和調(diào)整工作距離非常有幫助，能給予用戶*的靈活性和舒適度。

*的安全特性

e–Flash探測器具有密封的機殼，所有的移動部件內(nèi)置，切實避免由移動部件引起的不必要的損害。探測器安裝僅需三根導線，兩根以太網(wǎng)（RJ45）雙絞線分別用于信號傳輸和探測器控制，第三條導線用于供電。導線固定安裝，避免導線之間的纏繞和外部損傷。

EBSD外殼頂部標配藍色LED指示器，無論探測器是否關閉，實時顯示磷屏位置。該設計可有效避免磷屏與SEM樣品腔中的部件發(fā)生碰撞而導致磷屏損壞的風險。一旦發(fā)生碰撞，快速回縮機制會立刻觸發(fā)，將EBSD探測器以10mm/s的速度移出樣品腔。磷屏更換非常簡便，如屏幕被劃傷或損壞，用戶也可以輕松的自行更換。

靈活性—適合任何分析環(huán)境和任務

e–Flash探測器具有非常大的伸入長度，對于當前zui大樣品腔的電鏡，也適合安裝?？焖俚奶綔y器移動速度和定位的精準性，對于3D EBSD等的高重復性任務非常實用。