場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM廠家：日本電子株式會(huì)社型號(hào)：JEM-2100F技術(shù)參數(shù)：1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm；點(diǎn)分辨率：0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；2.樣品傾角：+/-40o；放大倍數(shù)：60-1000000；電子槍：Schottly場(chǎng)發(fā)射電子槍

場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM

廠家：日本電子株式會(huì)社

型號(hào)：JEM-2100F

技術(shù)參數(shù)：

1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm； 點(diǎn)分辨率：  0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；

2.樣品傾角：+/-40o；放大倍數(shù)：60-1000000；電子槍：Schottly 場(chǎng)發(fā)射電子槍。

3.高性能的TEM成像、STEM成像和納米分析；

4.配備英國(guó)Oxford  X-MAX能譜儀 。

應(yīng)用范圍：

1.應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析；

2.各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和半定量檢測(cè)；

3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測(cè)定；

4.復(fù)合材料界面特性的研究。

表征項(xiàng)目：

可進(jìn)行TEM形貌 ，HRTEM高分辨 ，選區(qū)電子衍射SAED,  STEM-HADDF暗場(chǎng)像 ， EDX元素定量，  Mapping元素分布 ， 點(diǎn)掃描、 線掃描 。

樣品要求：

粉末、液體樣都行；樣品量：粉末樣≥1mg  ，液體樣≥1ml 。